Precise half-life measurement of the 26Si ground state
I. Matea, J. Souin, J. Äystö, B. Blank, P. Delahaye, V. -V. Elomaa, T. Eronen, J. Giovinazzo, U. Hager, J. Hakala, J. Huikari, A. Jokinen, A. Kankainen, I. D. Moore, J. -L. Pedroza, S. Rahaman, J. Rissanen, J. Ronkainen, A. Saastamoinen, T. Sonoda and C. Weber
Eur. Phys. J. A, 37 2 (2008) 151-158
DOI: https://doi.org/10.1140/epja/i2008-10623-5