Étude par spectroscopie d'admittance et MEB de la dégradation électrique des couches minces de CuAlS2 non dopé déposées sous vide
, and
Eur. Phys. J. AP, 3 1 (1998) 9-19
Published online: 15 July 1998
DOI: 10.1051/epjap:1998198