Beta-decay properties of 25 Si and 26 P
J.-C. Thomas, L. Achouri, J. Äystö, R. Béraud, B. Blank, G. Canchel, S. Czajkowski, P. Dendooven, A. Ensallem, J. Giovinazzo, N. Guillet, J. Honkanen, A. Jokinen, A. Laird, M. Lewitowicz, C. Longour, F. de Oliveira Santos, K. Peräjärvi and M. Stanoiu
Eur. Phys. J. A, 21 3 (2004) 419-435
DOI: https://doi.org/10.1140/epja/i2003-10218-8