High-precision half-life determination of
O via direct
counting
S. Sharma, G. F. Grinyer, G. C. Ball, J. R. Leslie, C. E. Svensson, F. A. Ali, C. Andreoiu, N. Bernier, S. S. Bhattacharjee, V. Bildstein, C. Burbadge, R. Caballero-Folch, R. Coleman, A. Diaz Varela, M. R. Dunlop, R. Dunlop, A. B. Garnsworthy, E. Gyabeng Fuakye, G. M. Huber, B. Jigmeddorj, K. Kapoor, A. T. Laffoley, K. G. Leach, J. Long, A. D. MacLean, C. R. Natzke, B. Olaizola, A. J. Radich, N. Saei, J. T. Smallcombe, A. Talebitaher, K. Whitmore and T. Zidar
Eur. Phys. J. A, 58 5 (2022) 83
DOI: https://doi.org/10.1140/epja/s10050-022-00730-w