Intrinsic pinning and current percolation signatures in E-J characteristics of Si/YSZ/CeO2/YBCO layouts
D. Botta, C. Camerlingo, A. Chiodoni, F. Fabbri, R. Gerbaldo, G. Ghigo, L. Gozzelino, F. Laviano, B. Minetti, C. F. Pirri, G. Rombolà, G. Tallarida, E. Tresso and E. Mezzetti